型番(ドライブベンダ)
書き込み16倍 書き換え10倍 読み取り40倍
その他の機能
書き込みエラー防止機能(BURN-Proof)
I・OデータのI-コネクトケースにてUSB2.0変換
http://www.logitec.co.jp/products/zzz/99901/old/t1610bfu.html
CD-W516EB
http://www.teac.co.jp/dspd/product/optical/cd-w516ej.html
LCW-T1610BFU(CD-W516EB)の
ドライブデータPART1
スペック
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型番(ドライブベンダ) |
LCW-T1610BFU(TEAC CD-W516EB) |
| メーカー | ロジテック(TEAC) |
| スペック |
書き込み16倍 書き換え10倍 読み取り40倍 |
| キャッシュ | 2MB |
| 接続I/F | IEEE1394及びUSB1.1 |
| 形式 | 外付け型 |
| 電源 | 100V 13W(5V-1.1A 12V-2.1A) |
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その他の機能 |
書き込みエラー防止機能(BURN-Proof) |
| メインチップ | LC898093KL |
| テスト環境 | IEEE1394接続及び I・OデータのI-コネクトケースにてUSB2.0変換 |
| 生産国表示 | MADE IN MALAYSIA |
| 参考リンク | LCW-T1610BFU http://www.logitec.co.jp/products/zzz/99901/old/t1610bfu.html CD-W516EB http://www.teac.co.jp/dspd/product/optical/cd-w516ej.html |
| その他 | ファーム1.0K |
NERO CD/DVD SPEED
2.11によるベンチマークテスト
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読み取りテスト データCD(CD-R) |
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読み取りテスト オーディオCD(CD-R) |
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読み取りテスト データCD(プレスCD) |
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読み取りテスト オーディオCD(プレスCD) |
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読み取りテスト データCD(CD-RW) |
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読み取りテスト オーディオCD(CD-RW) |
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読み取りテスト 悪条件CD-R(注) |
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読み取りテスト 99分CD-R |
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読み取りテスト 90分CD-R |
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読み取りテスト オーディオマスター書き込みCD-R |
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読み取りテスト GigaRec0.6倍書き込みCD-R |
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読み取りテスト GigaRec1.2倍書き込みCD-R |
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書き込みテスト SONY 32倍速対応650MB(太陽誘電) |
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書き込みテスト 3E マルチスピード対応700MB(ritek) |
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書き込みテスト CD-RW(富士フィルムHi-SPEED CD-RW 4-10倍速対応) |
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オーバーバーンテスト(99min) |
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書き込みメディアのチェック
注)下記の結果は当方の環境で計測した簡易的な物で、厳密な
書き込み品質のチェックではありませんのでご注意下さい。
(厳密な書き込み品質の測定にはエラーチェッカー等の業務用の計測機が必要です。)
CD Doctorによる計測
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書き込み速度8倍 使用メディア マクセル 32倍速700MB(太陽誘電) 計測CRX195E1 |
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書き込み速度16倍 使用メディア TRAXDATA 40倍速700MB(ritek) 計測CRX195E1 |
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